빛의 속도 측정 장치

 

두 가지 측정 방법

이 광속 측정 장치는 위상 방법과 리사쥬 그림 방법의 두 가지 측정 방법을 지원합니다. 장비의 길이는 0.8미터이며, 광학 경로는 0에서 1미터까지 조정될 수 있습니다. 위상 변이 범위는 -180도 ~ +180도입니다. Lissajous 방법을 사용하면 학생들은 0도, 45도, 90도, 135도, 180도의 위상각에서 패턴을 명확하게 관찰할 수 있습니다. 분해능은 0.2mm이다. 변조 주파수는 150MHz이고, 위상 검출 주파수는 455kHz입니다. 이 장치는 학생들이 현대 광학 개념을 이해하는 데 도움이 됩니다.

이 빛 속도 측정 장치를 사용하면 학생들은 7가지 실험 작업을 완료할 수 있습니다. 먼저, 그들은 위상법이나 리사주법을 사용하여 빛의 속도를 측정합니다. 둘째, 변조 파장을 결정합니다. 셋째, 위상 측정을 위해 주파수 차이 방법을 사용합니다. 넷째, 광변조의 기본원리를 연구한다. 다섯째, 오실로스코프의 교정과 작동을 배운다. 여섯째, 시스템에는 아날로그 통신 인터페이스가 포함되어 있어 선택적 레이저 통신 실험이 가능합니다. 일곱째, 매질 속에서의 굴절률이나 빛의 속도를 측정하기 위해 투명한 막대를 추가할 수 있다. 이 시스템은-종합적인 대학 실험실 교육에 매우 적합합니다.

이 장치는 길이가 600mm인 위상 천이기용 정밀 레일을 갖추고 있습니다. 평탄도와 평행도를 모두 0.02mm 이내로 제어하여 고정밀도를 보장합니다. 시스템에는 수신 채널 1개, 주파수 측정 채널 1개, 기준 채널 1개, 변조 채널 1개가 포함됩니다. 소비전력은 8W에 불과합니다. 측정 정확도는 3% 이하이고, 파형 진폭 변화는 1% 이하입니다. 프리즘 캐리지는 수직으로 조정될 수 있습니다. 최소 주문 수량은 1개이며, 대량 주문 전 샘플 제공이 가능합니다. (무료 샘플은 제공되지 않습니다.) 이 장치는 교육 기관에서 널리 사용됩니다.

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